satın almak BYCHPS ile SN74ABT18652PM
Garanti ile satın alın
SN74ABT18652PM
- Parça Numarası:
- SN74ABT18652PM
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 18622 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74ABT18652PM.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74ABT18652PM, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74ABT18652PM e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 64-LQFP (10x10) |
| Dizi: | 74ABT |
| paketleme: | Tray |
| Paket / Kutu: | 64-LQFP |
| Diğer isimler: | 296-3944 SN74ABT18652PMG4 SN74ABT18652PMG4-ND |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 18 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Üretici Standart Teslimat Süresi: | 6 Weeks |
| Üretici parti numarası: | SN74ABT18652PM |
| Mantık türü: | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Genişletilmiş Açıklama: | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| Açıklama: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
SN74ABT18652PM için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT125DBRG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18504PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18640DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74ABT18245ADLR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT18502PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog