satın almak BYCHPS ile SN74LVTH18504APMR
Garanti ile satın alın
SN74LVTH18504APMR
- Parça Numarası:
- SN74LVTH18504APMR
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 15102 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74LVTH18504APMR.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74LVTH18504APMR, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74LVTH18504APMR e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 64-LQFP (10x10) |
| Dizi: | 74LVTH |
| paketleme: | Original-Reel® |
| Paket / Kutu: | 64-LQFP |
| Diğer isimler: | 296-14933-6 |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 20 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Üretici Standart Teslimat Süresi: | 6 Weeks |
| Üretici parti numarası: | SN74LVTH18504APMR |
| Mantık türü: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Genişletilmiş Açıklama: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Açıklama: | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP |
| Email: | [email protected] |
SN74LVTH18504APMR için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers