satın almak BYCHPS ile SN74ABT8543DLR
Garanti ile satın alın
SN74ABT8543DLR
- Parça Numarası:
- SN74ABT8543DLR
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 12206 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74ABT8543DLR.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74ABT8543DLR, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74ABT8543DLR e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 28-SSOP |
| Dizi: | 74ABT |
| paketleme: | Tape & Reel (TR) |
| Paket / Kutu: | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Diğer isimler: | SN74ABT8543DLRG4 SN74ABT8543DLRG4-ND |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 8 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Üretici parti numarası: | SN74ABT8543DLR |
| Mantık türü: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Genişletilmiş Açıklama: | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP |
| Açıklama: | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
| Email: | [email protected] |
SN74ABT8543DLR için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8543DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT853PWG4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT853NSR | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SO | soruşturma |
|
SN74ABT853DBRE4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8543DW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT8543DL | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8543DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT853NT | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24DIP | soruşturma |
|
SN74ABT8543DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT853DBR | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT853PWRE4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT853DBRG4 | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT853DW | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SOIC | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog