satın almak BYCHPS ile SN74ABT8996DWR
Garanti ile satın alın
SN74ABT8996DWR
- Parça Numarası:
- SN74ABT8996DWR
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 16012 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74ABT8996DWR.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74ABT8996DWR, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74ABT8996DWR e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 24-SOIC |
| Dizi: | 74ABT |
| paketleme: | Tape & Reel (TR) |
| Paket / Kutu: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Diğer isimler: | 296-4117-2 CABT8996DWRG4 CABT8996DWRG4-ND |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 10 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Üretici parti numarası: | SN74ABT8996DWR |
| Mantık türü: | Addressable Scan Ports |
| Genişletilmiş Açıklama: | Addressable Scan Ports IC 24-SOIC |
| Açıklama: | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC |
| Email: | [email protected] |
SN74ABT8996DWR için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8952DLR | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8996PW | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8996DW | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT8996PWR | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8952DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8952DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT841ADWRE4 | Texas Instruments | IC 10BIT BUS-INTFC D 3ST 24-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT827NSRG4 | Texas Instruments | IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SO | soruşturma |
|
SN74ABT8952DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT8952DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | soruşturma |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT821ADW | Texas Instruments | IC D-TYPE POS TRG SNGL 24SOIC | soruşturma |
|
SN74ABT833DW | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SOIC | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers