satın almak BYCHPS ile SN74BCT8374ANT
Garanti ile satın alın
SN74BCT8374ANT
- Parça Numarası:
- SN74BCT8374ANT
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 15759 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74BCT8374ANT.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74BCT8374ANT, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74BCT8374ANT e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 24-PDIP |
| Dizi: | 74BCT |
| paketleme: | Tube |
| Paket / Kutu: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Çalışma sıcaklığı: | 0°C ~ 70°C |
| Bit sayısı: | 8 |
| bağlantı Tipi: | Through Hole |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Üretici parti numarası: | SN74BCT8374ANT |
| Mantık türü: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Genişletilmiş Açıklama: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Açıklama: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
| Email: | [email protected] |
SN74BCT8374ANT için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8374ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | soruşturma |
|
SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | soruşturma |
|
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | soruşturma |
|
SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog