satın almak BYCHPS ile SN74LVTH182504APM
Garanti ile satın alın
SN74LVTH182504APM
- Parça Numarası:
- SN74LVTH182504APM
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 12959 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74LVTH182504APM.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74LVTH182504APM, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74LVTH182504APM e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 64-LQFP (10x10) |
| Dizi: | 74LVTH |
| paketleme: | Tray |
| Paket / Kutu: | 64-LQFP |
| Diğer isimler: | 296-8697 |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 20 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Üretici Standart Teslimat Süresi: | 6 Weeks |
| Üretici parti numarası: | SN74LVTH182504APM |
| Mantık türü: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Genişletilmiş Açıklama: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Açıklama: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
SN74LVTH182504APM için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers