satın almak BYCHPS ile SN74LVTH182512DGGR
Garanti ile satın alın
SN74LVTH182512DGGR
- Parça Numarası:
- SN74LVTH182512DGGR
- Üretici firma:
- Açıklama:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
- Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu:
- Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
- Mevcut Miktarı:
- 18142 Pieces
- Veri Sayfası:
- SN74LVTH182512DGGR.pdf
Giriş
BYCHIPS, stoklama distribütörüdür SN74LVTH182512DGGR, biz anında nakliye için stokları var ve aynı zamanda uzun süre tedarik için kullanılabilir. Lütfen bize satın alma planınızı gönderin SN74LVTH182512DGGR e-posta ile, planınıza göre size en iyi fiyatı vereceğiz.
Özellikler
| Besleme gerilimi: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Tedarikçi Cihaz Paketi: | 64-TSSOP |
| Dizi: | 74LVTH |
| paketleme: | Tape & Reel (TR) |
| Paket / Kutu: | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Diğer isimler: | 296-8698-2 74LVTH182512DGGRE4 74LVTH182512DGGRE4-ND 74LVTH182512DGGRG4 74LVTH182512DGGRG4-ND |
| Çalışma sıcaklığı: | -40°C ~ 85°C |
| Bit sayısı: | 18 |
| bağlantı Tipi: | Surface Mount |
| Nem Duyarlılığı Seviyesi (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Üretici Standart Teslimat Süresi: | 6 Weeks |
| Üretici parti numarası: | SN74LVTH182512DGGR |
| Mantık türü: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Genişletilmiş Açıklama: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
| Açıklama: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| Email: | [email protected] |
SN74LVTH182512DGGR için ilgili parçalar
| görüntü | Parça Numarası | Üreticiler | Açıklama | Görünüm |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | soruşturma |
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | soruşturma |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | soruşturma |
Latest Haberleri
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog